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AT510X40 多路電阻測(cè)試儀。從1μΩ~3MΩ,Z大顯示3999數(shù)。使得多路測(cè)試周期高達(dá)50ms/次,AT510X20 40路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)800個(gè)器件的測(cè)試。
AT510X20 多路電阻測(cè)試儀。從1μΩ~3MΩ,Z大顯示3999數(shù)。使得多路測(cè)試周期高達(dá)50ms,AT510X20 20路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)400個(gè)器件的測(cè)試。
AT510X10 多路電阻測(cè)試儀。從1μΩ~3MΩ,Z大顯示3999數(shù),使得多路測(cè)試周期高達(dá)50ms/次,AT510X10 十路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)200個(gè)器件的測(cè)試。
AT510X6多路電阻測(cè)試儀。從1μΩ~3MΩ,Z大顯示3999數(shù)。受益于安柏的電阻測(cè)量技術(shù),使得多路測(cè)試周期高達(dá)50ms/次,AT510X6 6路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)120個(gè)器件的測(cè)試。