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產(chǎn)品中心國(guó)產(chǎn)-耐壓絕緣接地泄漏低電阻儀國(guó)產(chǎn)-低電阻測(cè)試儀AT5112熱敏電阻測(cè)試儀AT5112 PTC電阻測(cè)試儀
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熱敏電阻測(cè)試儀AT5112 PTC電阻測(cè)試儀內(nèi)置2路電阻測(cè)試電路，可同時(shí)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)PTC和被測(cè)PTC進(jìn)行測(cè)試得出差值并換算成實(shí)際值，忽略PTC的自身溫度敏感特性，達(dá)到精確測(cè)試，測(cè)試誤差小于0.1Ω，準(zhǔn)確度0.1%。采樣微處理器控制的AT5112可實(shí)現(xiàn)不開(kāi)蓋校準(zhǔn)，其Z高測(cè)試速度高達(dá)50次/秒，無(wú)論是人工測(cè)試或是自動(dòng)化測(cè)試都應(yīng)付自如。
熱敏電阻測(cè)試儀AT5112 PTC電阻測(cè)試儀
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| AT5112是針對(duì)熱敏電阻的雙路測(cè)試儀，內(nèi)置2路電阻測(cè)試電路，可同時(shí)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)PTC和被測(cè)PTC進(jìn)行測(cè)試得出差值并換算成實(shí)際值，忽略PTC的自身溫度敏感特性，達(dá)到精確測(cè)試，測(cè)試誤差小于0.1Ω，準(zhǔn)確度0.1%。 采樣微處理器控制的AT5112可實(shí)現(xiàn)不開(kāi)蓋校準(zhǔn)，其zui高測(cè)試速度高達(dá)50次/秒，無(wú)論是人工測(cè)試或是自動(dòng)化測(cè)試都應(yīng)付自如。 | |||||||||||||||||||||||||||
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| 技術(shù)規(guī)格 | |||||||||||||||||||||||||||
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| 性能特征 | |||||||||||||||||||||||||||
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| 應(yīng)用 | |||||||||||||||||||||||||||
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